特長
C,D (tanδ)のみ
積層セラミックコンデンサの測定
BIN測定
コンタクトチェック機能
120Hz,1kHz
測定時間:2ms
RS-232C,GP-IB標準装備
シリーズ製品
3511-50 120Hz,1kHz
3532-50 42Hz〜5MHz
3504-40 120Hz,1kHz
3504-50 120Hz,1kHz
3504-60 120Hz,1kHz
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